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開循環低溫探針臺 (LPS-50)
產品概要:
低溫(wen)探針臺(tai)可(ke)以對器件進(jin)行非破壞(huai)性的測(ce)試,器件的最(zui)大(da)尺寸可(ke)達到102mm(4inch)。一般來(lai)講, 納米(mi)電子(zi)材料(liao)(liao)、量子(zi)線、量子(zi)點和半導體材料(liao)(liao)是在低溫(wen)探針臺(tai)在進(jin)行測(ce)量的比較(jiao)典(dian)型的材料(liao)(liao)。系統的探針、測(ce)試電纜、樣品架(jia)都有多種類型可(ke)供(gong)選擇,從而滿足不同用戶的需要。
基本信息:
1、系統可使用液氮或液氦制冷,基本(ben)系統溫(wen)度 范圍:4.2/77 K to 500 K
2、高溫選件(jian),溫度范圍可到(dao) 20K-700K
3、¢5mm(0.2 in)光學(xue)樣品架,可以從背面照射樣品
4、樣品臺旋(xuan)轉(zhuan)選件,旋(xuan)轉(zhuan)角度±180 度,角度分辨率
5、0.1 度(du),可選手(shou)動或電動旋轉
6、測量 DC 到 67GHz
7、最大測試樣品尺寸 51mm 直徑
8、最(zui)多可使用 6 個探針臂
9、探針臂(bei)上安裝(zhuang)溫度(du)(du)感器進行溫度(du)(du)監測
10、控溫(wen)穩定性: ±50mK
11、探針臂 3 軸(zhou)方向可(ke)調節,并可(ke)進行面內±5°旋轉
技術優勢:
1、電纜、屏蔽和 Guard 保護進一(yi)步減少了(le)電噪聲和熱輻射損失(shi)
2、支(zhi)持(chi)未來升級閉(bi)循環,可將溫度范圍擴(kuo)展到 4k
3、控溫(wen)穩(wen)定性大(da)大(da)增強
4、實時進(jin)行溫(wen)度(du)檢測
應用方向:
它為材料或器件的(de)電(dian)(dian)學特(te)性(xing)測(ce)量、光電(dian)(dian)特(te)性(xing)測(ce)量、參數測(ce)量、 high Z 測(ce)量、DC 測(ce)量、RF 測(ce)量和(he)微波特(te)性(xing)測(ce)量提供一個(ge)測(ce)試平(ping)臺。
開循環低溫探針臺 (LPS-50)
配置:
1. 樣品臺:2寸
2. 支(zhi)持6套DC探針
3. 溫(wen)度范圍:80k-500k
4. 支持低于100fA的漏(lou)電測試