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HCE-5000 便攜式ESD測試儀
產品概要:
ESD(靜(jing)電(dian)放電(dian))測(ce)試(shi)是(shi)在半導體可(ke)靠性測(ce)試(shi)期間(jian)進行的(de)(de)(de)。ESD測(ce)試(shi)對(dui)于半導體設(she)計(ji)的(de)(de)(de)開發和半導體制造的(de)(de)(de)最(zui)終(zhong)生(sheng)產過程中的(de)(de)(de)質量保證都是(shi)必不可(ke)少的(de)(de)(de)。
基本信息:
• 獨立的測試系統,便(bian)攜式空(kong)間占用(yong)小,性價(jia)比高。
• 搭配嵌入式操作屏幕,無(wu)需(xu)外(wai)置PC或Curve tracer可(ke)獨立(li)完成HBM,MM和漏電測試
• 適(shi)應(ying)于功率半導體器件及(ji)少管腳IC
技術優勢:
•易(yi)于使用(yong)的觸摸屏界(jie)面,設(she)置可以(yi)在沒(mei)有(you)PC的情(qing)況下進行調整
•符合多(duo)種標準,滿足JEDEC/ESDA/AEC/JEITA對HBM/MM的要求
•泄漏與曲線追蹤(zong)
應用方向:
ESD靜電放電測(ce)試。