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解決方案

光電器件的LIV特性測試方案

概述(shu)

LIV即光電(dian)(dian)特(te)性(xing)(xing),是驗(yan)證激光二極(ji)管、探測器性(xing)(xing)能的普(pu)遍的方法(fa)。在晶(jing)圓、切割、管芯、封裝(zhuang)后老化測試過程中,為降低生(sheng)產成本同時增加產品(pin)吞吐量(liang),快速(su)可靠的 LIV測試 系統對制造光電(dian)(dian)器件的工廠是很重要的。

根據Laser Diode工(gong)(gong)作原(yuan)理,通常技術人員(yuan)要(yao)用(yong)到電(dian)(dian)流(liu)源(yuan)來(lai)驅動LD工(gong)(gong)作,產生光(guang)的(de)同(tong)(tong)時(shi)用(yong)光(guang)功率計(ji)測(ce)量光(guang)功率來(lai)完成LIV 特性(xing)測(ce)試(shi)。在不同(tong)(tong)的(de)測(ce)試(shi)階段(duan)例(li)如Chip測(ce)試(shi),技術人員(yuan)將電(dian)(dian)流(liu)源(yuan)、電(dian)(dian)壓表、電(dian)(dian)流(liu)表、開關(guan)、同(tong)(tong)步(bu)觸發單元、光(guang)功率計(ji)集成起來(lai)才能完成測(ce)試(shi),同(tong)(tong)時(shi)老化測(ce)試(shi)前后需(xu)要(yao)將每個管芯(xin)或模(mo)塊(kuai)的(de)測(ce)試(shi)數據進行(xing)比對(dui),大大增加(jia)了系統的(de)復雜程度,影響了測(ce)試(shi)精度和數據可靠性(xing)。

英鉑科學儀器的LIV測(ce)試(shi)系統采用Keithley精密源測(ce)量單(dan)元為核(he)心,結合測(ce)試(shi)軟件CycleStar以及第三方設備積分球探測(ce)器完成LD 的 LIV 測(ce)試(shi)。系統結構簡單(dan)、精度高(gao)、可(ke)靠(kao)性(xing)好(hao)、速(su)度快,提高(gao)生產效率(lv)的同(tong)時(shi)也增加了(le)(le)測(ce)試(shi)精度和可(ke)靠(kao)性(xing),并(bing)且降低了(le)(le)測(ce)試(shi)成本。