產品測試功能
-
HCE-5000 手動便(bian)攜式 ESD測試機(ji)
測試能力：
1、支持HBM及MM的Package Level測試；
2、放(fang)電(dian)電(dian)壓：HBM：8KV MM：4KV；
3、可自制夾具，支持多種封裝測試(shi)
-
Keithley 4200A-SCS 半導體參數分(fen)析(xi)儀
測試能力
1、200V 1A IV 特性(xing)測試，適用于二極(ji)管(guan) Diode，電(dian)阻Resistor，三極(ji)管(guan) BJT， MOSFET 等測試
2、10KHz to 10MHz CV 測試
-
Keysight B1505A 功率(lv)器件測試(shi)分析(xi)儀
測試能力
1、3KV 20A（pulse）IV 特性測試，適用于(yu)低功(gong)率以及高功(gong)率二極管 Diode， 三極管 BJT，電阻 Resisrot
2、金屬氧化物(wu)半導體場效應(ying)晶體管 MOSFET，SiC & GaN MOSFET，Diode 測試
3、CV 測(ce)試：10KHz—5MHz
-
Keysight E5063A 矢量網絡分(fen)析儀
測試能力
1、100KHz—18GHz 雙端口(kou) S 參數測試(shi)，Z 參數以及 Y 參數測試(shi)
2、時域(yu)分析(xi)，特性阻抗以及差分阻抗測試(shi)
3、無線充電效能(neng)測試，包括有源(yuan)低(di)功率放大(da)器(qi)，濾波器(qi)， 天線，衰減器(qi)，射頻開關等測試
-
MPI TS2000-IFE 全(quan)自動測試 8 寸探針(zhen)臺
測試能力
1、8 寸及(ji)以下(xia)晶圓級 67GHz 高頻測試
2、低漏電(dian)器件材料表征(zheng)測(ce)試，光電(dian)器件表征(zheng)
3、全自動測(ce)試：IV 測(ce)試，雙端口RF 器件測(ce)試
-
MPI TS150 6 寸手動探針臺
測試能力
1、6 寸及以(yi)下晶圓級 67GHz 高(gao)頻，低漏(lou)電(dian)器件材料測試
2、光電器件表征
-
MPI TS3000 半自動(dong)測試 12寸探針(zhen)臺
測試能力
1、12寸及以下(xia)晶圓級低(di)漏電器件材料(liao)表征(zheng)測(ce)試，光電器件表征(zheng)
2、-40至(zhi)200℃高低溫(wen)IV測試
-
FS-Pro 半導體(ti)參數測試系統
測試能力
1、0.1fA靈敏(min)度(du)，30fA精度(du)，直(zhi)流1A，脈(mo)沖(chong)3A，脈(mo)寬50us，電(dian)壓200V
2、適用于IV測試
-
LPS-50液氮連續(xu)流(liu)低溫探針臺
測試能力
1、低(di)溫真空探(tan)針臺可以對(dui)器件進行非破(po)壞性(xing)的測試，器件最大尺寸可達到51mm(2inch)
2、可(ke)以對材料或(huo)器(qi)件的電學(xue)特性測(ce)量、光(guang)電特性測(ce)量、參(can)數測(ce)量、high Z測(ce)量、DC測(ce)量等提(ti)供一個(ge)測(ce)試平(ping)臺
-
低溫磁場探針臺
測試能力
1、可以對(dui)器件(jian)進(jin)行非破(po)壞性(xing)測(ce)試，器件(jian)的尺寸可達到(dao)25mm(1inch)
2、可(ke)以對材料或器(qi)件電學特性測量(liang)、光電特性測量(liang)、參(can)數測量(liang)和磁特性測試測量(liang)提供測試平(ping)臺
