隨著(zhu)高(gao)速(su)(su)互聯鏈路(lu)信(xin)(xin)(xin)號(hao)傳輸速(su)(su)率(lv)的不(bu)斷提高(gao)，作為(wei)器(qi)(qi)件(jian)和(he)信(xin)(xin)(xin)號(hao)傳輸的載體，印(yin)制電路(lu)板（PCB）的信(xin)(xin)(xin)號(hao)完整性(xing)對通(tong)信(xin)(xin)(xin)系統(tong)的電氣性(xing)能有(you)著(zhu)至關重(zhong)要(yao)的影響。尤其(qi)是10G和(he)25G+產(chan)品的大規模(mo)商用，對PCB傳輸線插(cha)入損耗（Insertion Loss）指標(biao)的監(jian)控是高(gao)速(su)(su)PCB研發和(he)量產(chan)過程中(zhong)管控的重(zhong)要(yao)手段，不(bu)同(tong)高(gao)速(su)(su)產(chan)品，客戶對信(xin)(xin)(xin)號(hao)損耗會有(you)不(bu)同(tong)的要(yao)求(qiu)，以服務器(qi)(qi)產(chan)品為(wei)例(li)，Intel基于不(bu)同(tong)的服務器(qi)(qi)平臺，對PCB帶狀線和(he)微(wei)帶線的損耗有(you)著(zhu)不(bu)同(tong)的損耗控制要(yao)求(qiu)。

        Delta L法(fa)是(shi)(shi)Intel提出，目前已大量應用于服務器產(chan)(chan)品量產(chan)(chan)測試(shi)的(de)(de)(de)(de)方法(fa)，是(shi)(shi)SET2DIL方法(fa)的(de)(de)(de)(de)替代。Delta L法(fa)設(she)計(ji)兩(liang)條不同長度(du)(du)的(de)(de)(de)(de)傳輸(shu)線(xian)（如圖6所(suo)示），傳輸(shu)線(xian)通(tong)過(guo)過(guo)孔(kong)（Via）、焊(han)盤(pan)（Pad）等連(lian)接(jie)至測試(shi)探(tan)針或SMA，采用VNA測試(shi)長短線(xian)的(de)(de)(de)(de)插(cha)損(sun)(sun)(sun)值，其中，結(jie)(jie)(jie)構A的(de)(de)(de)(de)插(cha)損(sun)(sun)(sun)值ILA = ILX1 + ILVias，結(jie)(jie)(jie)構B的(de)(de)(de)(de)插(cha)損(sun)(sun)(sun)值ILB = ILX2 + ILVias，在獲取長短線(xian)的(de)(de)(de)(de)插(cha)損(sun)(sun)(sun)后，先進行擬(ni)合(he)運(yun)算(suan)，消除多(duo)重(zhong)反射(she)的(de)(de)(de)(de)影(ying)響，再直(zhi)接(jie)做差值操作，從而獲得單位(wei)長度(du)(du)傳輸(shu)線(xian)的(de)(de)(de)(de)插(cha)損(sun)(sun)(sun)值：IL = (ILA-ILB) / (X1-X2)。為弱化(hua)測試(shi)系統的(de)(de)(de)(de)的(de)(de)(de)(de)不匹配效(xiao)應及多(duo)重(zhong)反射(she)對插(cha)損(sun)(sun)(sun)結(jie)(jie)(jie)果的(de)(de)(de)(de)影(ying)響，Delta L法(fa)對長度(du)(du)線(xian)的(de)(de)(de)(de)長度(du)(du)有嚴格要求，一(yi)般地，長短線(xian)差異需大于7.5 cm，以使多(duo)重(zhong)反射(she)的(de)(de)(de)(de)影(ying)響最(zui)小化(hua)。

        英鉑科學(xue)儀器(qi)提供(gong)Delta-L3.0，Delta-L4.0先進intel測試(shi)算法以及(ji)(ji)測試(shi)夾具精確(que)的測試(shi)高達40GHz的插入損(sun)耗（IL）值(zhi)，提供(gong)Pass/Fail判(pan)斷，通過(guo)軟(ruan)件(jian)連接(jie)(jie)矢量網絡分(fen)析儀(VNA)，數據批量測試(shi)能力強，支(zhi)持SMA接(jie)(jie)頭以及(ji)(ji)專用探頭硬件(jian)連接(jie)(jie)方式。