英鉑科學 參加第五屆深圳國際半導體技術暨應用展覽會返回列表
2023年5月16日，英鉑科學儀器（上海）有限公司參加第五屆深圳國際半導體技術暨應用展覽會，在深圳國際會展中心盛大召開。
2023年5月(yue)16日-5月(yue)18日，第五屆SEMI-e 深圳(zhen)國際半導體(ti)(ti)技術暨應用展(zhan)覽會(hui)在深圳(zhen)國際會(hui)展(zhan)中心（寶安新館）成功召(zhao)開。本(ben)屆展(zhan)會(hui)以精(jing)準(zhun)的(de)(de)市場定位，為(wei)半導體(ti)(ti)產(chan)業鏈(lian)上中下游(you)節(jie)點的(de)(de)企業搭(da)建出共享、交流、共創的(de)(de)廣闊平(ping)臺，為(wei)行業打造了一場“雙向奔赴”的(de)(de)采購盛宴。
主營產品
·實驗(yan)室及產線CP/WAT全套測試設備和解(jie)決方案(an)
·各類型探針臺(手(shou)動(dong)、半自動(dong)、全(quan)自動(dong)、真空(kong)、極低溫、磁場、光電等)
·各功能型號儀(yi)表(源表、半導體參數分析(xi)測(ce)試儀(yi)、網(wang)絡分析(xi)儀(yi)、負載(zai)牽引、ESD/TLP測(ce)試儀(yi)、Pulsed-IV系統、高(gao)壓大(da)電(dian)流測(ce)試機等)
·各功能定制(zhi)軟(ruan)件
·各(ge)類(lei)常用耗(hao)材和備件
針對領域：
·IV/CV等建模(mo)、測試
·RF及mmW等建模、測試、量產測試
·HV/HC等大功率器件建模、測試、量(liang)產測試
·RE可(ke)靠性測試
·FA失效分析
·FT熱循(xun)環測試
·PD/APD、激光等光電(dian)產品量產測試(shi)
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