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噪聲參數測試系統
產品概要:
Maury 噪(zao)(zao)聲(sheng)參數測試系(xi)統的(de)噪(zao)(zao)聲(sheng)系(xi)數是(shi)衡量低噪(zao)(zao)聲(sheng)器件或(huo)者(zhe)噪(zao)(zao)聲(sheng)放(fang)大器噪(zao)(zao)聲(sheng)特(te)(te)性(xing)最常用(yong)的(de)品質(zhi)因素,降低噪(zao)(zao)聲(sheng)系(xi)數可(ke)以減(jian)小(xiao)噪(zao)(zao)聲(sheng)對系(xi)統信噪(zao)(zao)比造成的(de)影響,描(miao)述變化關系(xi)引入噪(zao)(zao)聲(sheng)參數來表(biao)征噪(zao)(zao)聲(sheng)器件的(de)特(te)(te)性(xing)的(de)測試系(xi)統。
基本信息:
Maury的(de)噪(zao)聲(sheng)參數(shu)測量系(xi)統集成(cheng)了(le)噪(zao)聲(sheng)接(jie)收(shou)(shou)機(ji),阻抗調配器,網(wang)絡分(fen)析儀(yi),系(xi)統測量軟件以及(ji)相應(ying)的(de)噪(zao)聲(sheng)輸(shu)入和輸(shu)出模塊,其中(zhong)輸(shu)入和輸(shu)出噪(zao)聲(sheng)模塊(Noise Switch Module和Noise Receiver Module)在(zai)緊湊的(de)空間內集成(cheng)了(le)低(di)噪(zao)放(NRM),下變頻器件(對于毫(hao)米(mi)波(bo)頻段),T型偏(pian)置(zhi)和開關,與PNA-X或者(zhe)是噪(zao)聲(sheng)分(fen)析儀(yi)只需要直(zhi)接(jie)連接(jie)即可以簡便地完成(cheng)整個系(xi)統的(de)搭(da)建,同時內置(zhi)的(de)LNA模塊可以將系(xi)統噪(zao)聲(sheng)接(jie)收(shou)(shou)機(ji)噪(zao)聲(sheng)系(xi)統降低(di)5~6 dB,大大增加(jia)系(xi)統的(de)測量準(zhun)確性(xing)和可靠(kao)性(xing),為(wei)用(yong)戶超快(kuai)速且精準(zhun)地完成(cheng)噪(zao)聲(sheng)參數(shu)測試。
技術優勢:
1、系統的測量性(xing)和可(ke)靠性(xing)大大提高
2、測(ce)試所需(xu)時間較短(duan)且精準度(du)高(gao)
應用方向:
主要適用(yong)于衡(heng)量低噪聲器件或者噪聲放大器噪聲特性。